Kolor | Układ oświetlenia i pomiaru | Reflektancja:
di:8°, de:8° (oświetlenie rozproszone, kąt obserwacji 8°)
Zgodność z normami kolorymetrycznymi CIE No.15 (2004), ISO7724/1, ASTM E1164, DIN 5033 Teil7, JIS Z 8722 warunek C. |
Transmisja: di:0°, de:0° (oświetlenie rozproszone, kąt obserwacji 0o) Zgodność z normami kolorymetrycznymi CIE nr 15 (2004), ISO7724/1, ASTM E1164, DIN 5033 Teil7 i JIS Z 8722 Condition g. |
| nie dot. |
Średnica sfery całkującej | Ø152 mm |
Detektor | Matryca fotodiod krzemowych (podwójna, 40 fotodiod) |
Element rozdzielający widmo | Płaska siatka dyfrakcyjna |
Zakres długości fali światła | 360-740 nm |
Rozdzielczość widmowa | 10 nm |
Szerokość połówkowa | ok. 10 nm |
Zakres reflektancji | 0-200% |
Rozdzielczość: 0.01% |
Źródło światła | 3 ksenonowe lampy błyskowe (NUVC) | 1 ksenonowa lampa błyskowa (tylko pełne UV) |
Żywotność źródła światła | ponad 1 mln |
Średnica pomiaru/oświetlenia [mm] | LAV: Ø30.0 / Ø25.4
LMAV: Ø20.0 /Ø16.0
MAV: Ø11.0 / Ø8.0
SAV: Ø7.0 / Ø4.0
Trans: Ø24.0 / Ø17.0 | LAV: Ø30.0 / Ø25.4
MAV: Ø11.0 / Ø8.0
SAV: Ø7.0 / Ø 4.0 |
Czas pomiaru | Ok. 3.5 s (SCI + pomiar SCE)
Ok. 4 s (SCI + SCE + pomiar połysku) | Ok. 3.5 s (SCI + SCE pomiar) |
Minimalna przerwa pomiędzy pomiarami | Ok. 4 s (SCI + SCE pomiar),
Ok. 4.5 s (SCI lub SCE + pomiar połysku) | Ok. 4 s (SCI + SCE pomiar) |
Powtarzalność | Wartości kolorymetryczne: Odchylenie stand. w granicach ΔE*ab 0,02
Spektralny współczynnik odbicia: Odchylenie stand. w granicach 0.1%
(Gdy biała płytka kalibracyjna mierzona 30 razy w odstępach 10sek po kalibracji bieli) | Odchylenie stand. w granicach ΔE*ab 0.03 |
IIA | Średnia ΔE*ab 0,12 (LAV/SCI) dla pomiaru 12 wzorcowych płytek koloru BCRA serii II w porównaniu do wartości zmierzonych instrumentem odniesienia. | Średnia ΔE*ab 0,15 (LAV/SCI) dla pomiaru 12 wzorcowych płytek koloru BCRA serii II w porównaniu do wartości zmierzonych instrumentem odniesienia. |
Regulacja UV | NUVC*1 (UV100 (pełne UV), UV dostosowane, UV0. Z filtrami odcinającymi UV 400nm i 420nm) | Brak funkcji ustawienia (100% UV) |
Połysk | Geometria pomiarowa | 60°
(zgodność z ISO 2813, ISO 7668 (MAV), ASTM D523-08, ASTM D2457-13, DIN 67530, JIS-Z8741 (MAV), JIS-K5600) | nie dot. |
Źródło światła | Biała dioda LED |
Detektor | Fotodioda krzemowa |
Zakres reflektancji | 0-200 GU |
Rozdzielczość: 0.01 GU |
Średnica pomiaru [mm] | MAV (obszar pomiaru koloru LAV/LMAV/MAV): Ø10.0 x 8.0 |
SAV (obszar pomiaru koloru SAV): Ø3.0 |
Powtarzalność (MAV) | 0-10 GU: w granicach 0.1 GU |
10-100 GU: w granicach 0.2 GU |
>100 GU: w granicach 0,2% wskazanej wartości (odchylenie standardowe) |
IIA (MAV) | 0-10 GU: ±0.2 GU |
10-100 GU: ±0.5 GU |
Podgląd próbki | Kamera RGB |
Wewnętrzna kontrola sprawności*2 | Technologia WAA (analiza i regulacji długości fali) |
Interfejs | USB 2.0 |
Zakres temperatury/wilgotności otoczenia podczas pracy | od 13 do 33°C, wilgotność względna 80% lub mniej (przy 33°C), bez skraplania |
Zakres temperatury/wilgotności otoczenia podczas przechowywania | od 0 do 40 °C, wilgotność względna 80% lub mniej (przy 35 °C), bez skraplania |
Wymiary (SZER.×WYS.×DŁ.) | 248×250×498 mm | 300×677×315 mm | 248×250×498 mm |
Masa | 8.4 kg | 14.0 kg | 8.3 kg |